이름 : 맹기룡
Tel : 031-750-8726
E-Mail : xrd1@gachon.ac.kr
방향성이 있는 금속 및 세라믹 시편의 특정한 방향의 결정성을 정밀하게 측정하는 장비로서 X-Ray Diffractometer 운용시 적용되어 Sample stage, 검출기 등에 대한 각도 조정이 가능하다.
Multi purpose attachment (MPA) : Thin film Residual stress Pole figure
Diffracted beam monochromator curved & flat crystal (Cu)
- 결정구조분석 박막구조 해석 결정결함 분포 측정
- 화합물의 결정구조 분석
- 시료를 구성하고 있는 화합물의 확인 및 정량 분석