글번호
79092

적외선형광분석기

수정일
2022.09.08
작성자
공동기기원
조회수
83
등록일
2022.09.08
이미지
기기명(한글)
적외선형광분석기
기기명(영문)
FT-IR/FT-Raman Spectroscopy
모델명
Vertex 70/Raman
제작사
Bruker
설치장소
IT융합대학 103호
예약사이트
담당자(사용관리자)

이름 : 김나영

Tel : 031-750-8725

E-Mail : ng0511@gachon.ac.kr

기계특징

특정 물질의 적외선 흡수 스펙트럼을 통해 그 물질의 화학적 물리적 특성들에 관 한 중요한 정보를 제공하는 장비로서 유기화합물의 분석이나 다원자 무기 화합물 과 유기 금속화합물의 분석에 유용하다. Spectroscopy를 이용하여 물질 표면의 성분 분석이 가능하며, FT-Raman/Spectroscopy를 같이 분석하여 분석 물질의 IR결과 뿐 아니라 Raman도 측정할 수 있다. 또한 FT-IR과 같이 현미경이 장착되어 있어 시료 표면의 원하는 부분을 선택하여 라만 분석을 할 수 있어 샘플의 특징을 분석하는데 유용하다. 

사양

Near IR, visible and far IR/THz spectral range extensions

Software selectable up to 5 exit and 2 input beam ports

Fully evacuable optics 

Easy beamsplitter change without active interferometer alignment

Automated internal/external sources and detectors switching option

DigiTectTM parallel 2-channel 24-bit dynamic range ADC

Automatic optical components recognition

활용분야

- 특정 물질의 적외선 흡수 스펙트럼을 통해 그 물질의 화학적 물리적 특성들에 관한 중요 정보를 제공

- 유기화합물의 분석이나 다원자 무기화합물과 유기 금속화합물을 분석

- Spectroscopy를 이용하여 물질 표면의 성분분석이 가능

- FT-IR과 함께 FT-Raman/Spectroscopy를 보유하고 있어 분석 물질의 IR결과뿐 아니라 Raman도 같이 측정 가능

- 편광 변조(PM-IRRAS)와 결합된 표면 분석

- 사진 음향 분광기 (PAS)에 의해 어두운 재료와 깊이 프로파일링의 조사

- 반도체 품질 관리를 위한 실리콘 웨이퍼의 산소 및 탄소 함량 측정