이름 : 송유대
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두 범용 장비인 TGA와 FT-IR 장비간의 융복합화를 통하여, TGA 열분해 과정에서의 분해 산물을 FT-IR로 in-situ 분석함으로써, 고분자 등의 정량적 조성 측정과 더불어 정성 및 구조 분석에 새로운 기회를 제공함.
- 감도 : 0.1 ㎍ - 측정온도 범위 : -20℃ ~ 1200 ℃ - 스캔 속도 : 0.1℃ ~ 500 ℃ /min - cycle time : 1100℃ to 50℃ < 13min - 저울 정밀도 : 0.001% - 시료 최대 용량 : 1300 mg - sample pan : platinum or ceramic
온도 변화에 따른 시료의 열분해로 인한 질량 변화를 정밀하게 측정함으로써 시료의 조성을 측정하는 장비이며, 고분자 수지의 열안정성, 수지함량, 잔존회분, 분해개시 온도, 탄소함량, 불순물 정도를 측정에 흔히 사용되는 범용 장비임. 복합 소재인 탄소나노소재, 보론 나이트라이드 등 다양한 나노소재의 함량 및 관련 불순물 정량에 적용 가능함.